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鍍層測厚儀使用規(guī)定

發(fā)布日期: 2022-02-11
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鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質量檢測的重要環(huán)節(jié),是產品達到優(yōu)等質量標準的必要手段。為使產品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。

使用儀器時應當遵守的規(guī)定:
a 基體金屬特性
對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法,標準片基體金屬的電性質,應當與試件基體金屬的電性質相似。
b 基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,可采用3.3中的某種方法進行校準。
c 邊緣效應
不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
d 曲率
不應在試件的彎曲表面上測量。
e 讀數次數
通常由于儀器的每次讀數并不*相同,因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內進行多次測量,表面粗造時更應如此。
f 表面清潔度
測量前,應清除表面上的任何附著物質,如塵土、油脂及腐蝕產物等,但不要除去任何覆蓋層物質
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